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n外延薄膜应变状态和缺陷密度的影响。通过拉曼散射探测声子频率从而得到材料中的残余应力是一种简便常用的方法,alxga1-xn外延薄膜的应变状态可通过拉曼光谱测量得
https://www.alighting.cn/resource/20110902/127210.htm2011/9/2 17:06:01
附件为《照明负荷密度表格》，欢迎大家下载学习!
https://www.alighting.cn/resource/2014/7/15/172048_73.htm2014/7/15 17:20:48
微缺陷与器件可靠性的关系密切;减少外延晶片中的微缺陷密度有利于提高led器件的可靠性。通过建立从外延片晶体结构质量、芯片光电参数分布到器件可靠性的分析实验方法,为gan-led外
https://www.alighting.cn/resource/20130325/125827.htm2013/3/25 10:51:55
本文介绍了电源设计中变压器的常用电流密度计算公式。
https://www.alighting.cn/2014/11/25 11:30:29
在工艺上加速进步的步伐会引入新的影响良品率的缺陷种类，其中一些类型的缺陷并不能被光学检测手段所检测到。这些缺陷被称之为“非可见性缺陷(non visual defects，nv
https://www.alighting.cn/resource/20141104/124129.htm2014/11/4 12:37:24
本文在led芯片非接触检测方法的基础上，在led引脚式封装过程中，利用p-n结光生伏特效应，分析了封装缺陷对光照射led芯片在引线支架中产生的回路光电流的影响，采用电磁感应定律测
https://www.alighting.cn/resource/2012/7/6/102356_02.htm2012/7/6 10:23:56
通过对隧道照明的特点进行分析，指出确定隧道照明功率密度的主要影响因素，并探讨隧道照明功率密度值的确定方法，从而为确定合理的隧道照明节能标准提供参考和依据。
https://www.alighting.cn/resource/20141103/124136.htm2014/11/3 12:06:49
引脚式led芯片封装工艺中封装缺陷不可避免。基于p-n结的光生伏特效应和电子隧穿效应,分析了一种封装缺陷对led支架回路光电流的影响。利用电磁感应定律对led支架回路光电流进
https://www.alighting.cn/resource/20120310/126683.htm2012/3/10 19:11:29
led照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策：文章介绍了通过vf—tj曲线的标出并控制led 在控定的结温下测量其光、色、电参数不仅对采用led的照明器具的如何保证led工作结温提
https://www.alighting.cn/resource/2011/3/9/104416_46.htm2011/3/9 10:44:16
挥之不去的阴霾 拷问led缺点及成因。
https://www.alighting.cn/resource/20101102/128236.htm2010/11/2 14:16:36
