一种基于伪失效寿命的LED可靠性快速评价方法
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上传人：郭伟玲、樊星、崔德胜、吴国庆、俞鑫 上传时间： 2013-04-16 浏览次数： 47 |
| 作者 | 郭伟玲、樊星、崔德胜、吴国庆、俞鑫 |
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| 单位 | 北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室 |
| 分类号 | TN312.8 |
| 发表刊物 | 《发光学报》 |
| 发布时间 | 2013年 |
摘要：提出一种快速评价LED可靠性的有效方法。通过测试LED样品的伪失效寿命,结合Minitab软件进行数据分析,确定全部样品的伪失效寿命服从二参数的威布尔分布。通过计算威布尔分布尺度参数,比较不同样品的尺度参数来评价产品的可靠性。该方法对LED的可靠性评价和寿命预测有一定的参考价值。
1引言随着电子信息技术应用的日益广泛,各种电子产品对现代社会的影响日益增大,产品结构的复杂以及使用条件的严苛使得产品发生故障及潜在失效的可能性越来越大,可靠性已经成为电子产品最重要的质量指标。传统意义的可靠性评估主要是基于数理统计和寿命试验形成的一套理论方
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