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三星SDI公布氧化物半导体TFT驱动12.1英寸OLED面板的技术细节

上传人:未知

上传时间: 2008-05-23

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图1:采用氧化物半导体IGZO材料的TFT12.1英寸OLED面板

  韩国三星SDI开发出了采用氧化物半导体IGZO(In-Ga-Zn-O)材料的TFT12.1英寸OLED面板,并在“SID 2008”上公布了技术细节(演讲序号:3.1)。该面板在玻璃底板上形成了采用氧化物半导体的有源矩阵型TFT阵列和OLED元件。

  此次开发的OLED面板的像素为1280×768像素(WXGA),分辨率为123ppi(图1)。亮度为300cd/m2,对比度为2万:1。采用底部发光结构,光从TFT底板侧取得。OLED材料采用的是低分子材料。但红色用磷光材料,绿色和蓝色采用荧光材料。

图2:所开发产品的面板结构

  TFT的掩膜数量为7片(图2)。像素间距为69μm×207μm,像素电路由2个TFT和1个电容器构成。采用底栅结构,栅极、源极及漏极的电极材料采用Mo,栅极绝缘膜采用SiOx/SiNx,并使用了现有的光刻制造技术。IGZO TFT的迁移率为17.2cm2s,开关比为108以上,亚阈值斜率(S值)为0.28V/decade。

图3:与非晶硅及低温多结晶硅的比较

  三星SDI指出,采用IGZO的TFT其优势在于可以着手量产大尺寸玻璃底板(图3)。使用此次的TFT制作方法,甚至可以支持第8代底板。

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