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基于数值模拟的LED键合线热应力分析

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2016-11-04 作者:裴小明 张丽 游志 来源:深圳市瑞丰光电子股份有限公司 浏览量: 网友评论: 0
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摘要: LED(Light-Emitting-Diode )以其高光效、低功耗的绿色节能优越性,成为新时期下的主流光源。目前LED主要依赖于引线键合(Wire-Bonding)的方式将芯片电极与基板互连实现电气连接,而键合线往往在冷热冲击试验过程中出现断裂问题,导致LED死灯失效,严重影响了LED的可靠性。

  3 结论

  本文从材料的热应力基础理论出发,针对冷热冲击下的小电极LED键合线热应力分布做了数值模拟分析。结论如下:

  (1)由热应力基础理论模型来看,温差越大、材料的热膨胀系数相差越大、材料的弹性模量越大,LED材料受到热应力越大,随着时间增加,材料界面应力集中容易产生疲劳断裂,因此在LED封装中应着重考虑各封装材料之间的材料匹配性。

  (2)冷热冲击下,LED引线周期性地受到收缩压应力和膨胀拉应力。对于小电极LED而言,最大应力出现在高温时键合线与焊球之间的过渡位置。

  (3)不同引线线弧模式对LED键合线的热应力存在影响;对于小电极LED而言,当直线段较短时,随着弧高的增大,热应力逐渐增大;当直线段较长时,随着弧高的增大,热应力先减小后增大。当弧高一定时,随着直线段的增高,热应力先增大后减小,但由于键合点附近材料易脆化,因此需综合考虑以上因素选取最佳直线段长度。。

  参考文献

  [1]. 雷玉堂,黎慧 未来的照明光源—白光LED技术及其发展 [J] 光学与光电技术, 2003, 1(5):33-34

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