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基于数值模拟的LED键合线热应力分析

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2016-11-04 作者:裴小明 张丽 游志 来源:深圳市瑞丰光电子股份有限公司 浏览量: 网友评论: 0
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摘要: LED(Light-Emitting-Diode )以其高光效、低功耗的绿色节能优越性,成为新时期下的主流光源。目前LED主要依赖于引线键合(Wire-Bonding)的方式将芯片电极与基板互连实现电气连接,而键合线往往在冷热冲击试验过程中出现断裂问题,导致LED死灯失效,严重影响了LED的可靠性。

  2 有限元数值模拟分析

  2.1 有限元模型建立

  本文首先针对实际使用的小电极LED器件模型进行了三维几何构建,如图1所示。其中键合线由芯片电极植球引出,向支架焊盘处实现楔形键合。芯片、支架、键合线、封装胶一一装配约束。

  图1 LED三维几何模型

  LED器件模型中的主要材料热力学特性参数如表1所示,包括密度ρ、热膨胀系数α、弹性模量E、泊松比ν和传热系数K。

  表1 材料特性参数

  为了求解LED三维模型的热应力,特别是LED键合线的热应力分布,对封装结构进行了有限元网格划分,其中芯片及电极等细微结构部分进行精细化分,如图2所示。

  图2 LED三维有限元模型

  以冷热冲击试验条件对LED有限元模型施加温度载荷,如图3所示。高低温温度区间为(-40℃-100℃),保温时间为30min,升/降温时间为10s,零应力参考温度为25℃。

  图3 LED有限元模型温度载荷

  对LED有限元模型中心施以刚性约束,其余部分可自由发生形变。

  2.2 LED键合线热应力分析

  从有限元数值分析结果来看,对于小电极LED,在冷热冲击试验条件下,LED各封装材料发生周期性地膨胀与收缩。当温度下降至﹣40℃时, LED各材料发生收缩变形,由于封装胶热膨胀系数明显大于金线,因此键合线受到封装胶收缩产生的向内压应力,如图4所示,键合线线弧呈向内倾倒趋势。

  图4 -40℃LED键合线压缩变形图

  键合线线弧内侧最大压应力位于直线段与线弧段的过渡拐点,外侧最大压应力位于直线段与焊球之间的键合点,线弧外侧受到的压应力大于线弧内侧受到的压应力,如图5所示。

  图5 -40℃键合线线弧压应力分布图

  当温度上升至100℃时, LED各材料发生膨胀变形,同样由于胶体的膨胀变形较大,对键合线造成向外的拉伸应力,如图6所示,键合线向外侧倾倒。

  图6 100℃LED键合线拉伸变形图

  键合线线弧内侧最大拉应力位于直线段与线弧段的过渡拐点,外侧最大拉应力位于直线段与焊球之间的键合点,线弧外侧受到的拉应力大于线弧内侧受到的拉应力,如图7所示。

  图7 100℃键合线线弧拉应力分布图

  总体而言,冷热冲击过程中金属线的最大热应力如表2所示。可以看到:LED键合线在100℃高温段受到的热应力最大,应力最大点位于线弧直线段与焊球之间的键合点。

  表2 冷热冲击过程金属线最大热应力表

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