发光二极体元件之ESD测试方法[征求意见稿]
摘要: 本标準规定发光二极体元件之耐静电放电(ESD)测试方法。
前言
有鉴于LED 标準制定是LED 产业与照明产业永续经营的重要关键,经济部特邀集国内LED 上中下游、测试设备与週边材料厂家,组成「LED照明标準及品质研发联盟」于2007 年启动「LED 照明标準与品质研发应用整合计画」,结合中国电器、晶元光电、光宝科技、中盟光电、齐瀚光电、维明企业及一诠精密等7 家公司,与财团法人工业技术研究院电光所、能环所,共同建立一套完整的LED 相关产品之光电特性量测与品质验证规範,以提升国内LED 之製造品质及量测评估能力。
联盟目前已完成第叁阶段5 份标準草案,本份草案订为「发光二极体元件之ESD 测试方法标準草案」。草案内容将公告于经济部技术处网站,蒐集业界意見,后续将透过公协会,使标準草案之订定能更符合业界需求,以作为业界规範參考与政府制定相关标準之支援。
正文
1. 适用范围:本标準规定发光二极体元件之耐静电放电(ESD)测试方法。
2. 引用标准
下列标準受引用部分视为本标準内容之一部分。对于有标註日期者,仅所引用之版次适用,对于未标註日期者,则适用最新版次(包含所有增/修订部分)。
CNS 15249 发光二极体元件之光学与电性量测方法
3. 用语释义:
3.1 发光二极体(Light Emitting Diode, LED):具有受电能激发时发光之PN 接面的半导体元件(以下简称LED)。
3.2 LED 元件(LED component):含有1 个或多个LED 芯片的1 个封装体
3.3 静电放电(ESD,Electrostatic Discharge):兩个具有不同静电电位的物体,发生静电电荷转移的现象称为静电放电,瞬间大量静电电荷流通LED 可能会对LED 造成永久性破坏。
3.4 静电耐受电压:LED 可承受此电压以下的静电电压而不会损坏失效,此耐受电压可用电压等级(表2,表4)或使用者指定的电压來标示。
4. 静电耐受电压测试
试验项目包括人体放电模式(HBM, Human Body Mode)与机器放电模式(MM, Machine Mode)两种模式的静电耐受电压测试。
5. 人体放电模式ESD 测试
5.1 测试配置:
图1 是典型的HBM ESD 等效电路图,测试配置中包含了HBM ESD脉衝的模拟电路(ESD pulse simulator)与待测物的插座(DUT socket) 。
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