GBT 15651.3-2003半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
2011-01-18
作者：
来源：新世纪LED网
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摘要： 本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
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