CIE光辐射光谱和成像技术专题讲座与专家会议

暨2010年CIE D2年会在瑞士伯尔尼召开

　　2009年8月28日到9月3日，国际照明委员会(CIE)关于光辐射光谱和成像技术专题讲座与专家会议(CIE Tutorial and Expert Symposium on Spectral and Imaging Methods for Photometry and Radiometry)暨2010年CIE光和辐射测量分部(D2)年会在风景如画的瑞士首都伯尔尼召开。本次会议由CIE D2和瑞士照明学会(SLG)联合主办，瑞士联邦计量局(METAS)承办，会议地点就设在METAS。会议共吸引了全球28个国家的130位代表参加，中国大陆代表6人，其中，2名来自中国计量科学研究院、2名来自杭州远方光电信息有限公司(以下简称远方公司)、2名来自浙江大学，台湾地区代表4人(均来自台湾工业技术研究院(以下简称工研院)，中国专家们正在越来越积极地参与CIE国际学术交流活动，华人身影成为本次会议的一道亮丽风景线。

　　在CIE D2看来，照明领域正经历着许多历史性的改变，半导体照明逐步取代传统照明产品，这些新的产品需要更为先进的表征和测量方法。在此背景下，CIE D2举办了此次为期两天(8月30日至8月31日)的专题讲座及专家会议。会议首先针对LED、半导体照明以及其它领域的工程师和研究人员，邀请了多位光辐射测量专家讲解光度和色度学基本概念和先进测量技术。其中值得一提的是，由远方公司在全球首先提出的分光-积分相结合的光度测量方法(1999年申请有中国专利)，经过多年的国际交流和提倡，已被CIE专家普遍接收和认可，本次会议对此作出了结论性的高度评价。会议主席彼得布拉特纳(Peter Blattner)在关于光度学发展历史和基本概念(Basic Concept of Photometry)的讲座中指出：分光-积分相结合的光度测量方法在极大多数的光辐射测量应用中具有最高的测量精度，见图1。

　　在专家会议的报告部分，会议则以光谱和成像技术为重点，在全部投稿论文中，遴选了16位专家在大会上发言介绍其最新的先进光度、色度和辐射度测量技术，其中，中国共有两篇论文入选。分别为远方公司光电科学研究所李倩工程师报告高光谱成像亮度计技术(见图2)和浙江大学牟同升副教授报告LED加权辐亮度测量技术(见图3)。

　　图1：会议主席彼得布拉特纳(Peter Blattner)的报告节选

　　图2：远方公司李倩工程师向大会介绍高光谱成像亮度计技术

　　图3：浙江大学牟同升副教授向大会报告LED加权辐亮度测量技术

　　远方公司在全球范围内率先将原先仅在航空航天领域应用的高光谱技术应用到显示和照明光学测量领域，经过改良与创新，在全球率先研制出用于显示屏、灯具、照明场景等的二维光谱和亮度测量的高光谱成像亮度计，得到了大会的普遍关注和好评，会议主席在其报告中也把高光谱成像亮度计列为光度测量设备的

　　新成员，并认为这是未来新的发展方向，见图4。

　　图4：会议主席将高光谱成像亮度计列为测量仪器新成员

　　9月1日到9月3日，CIE D2按计划举行了各技术委员会(TC)会议和分部会议。其间，CIE 两名到会副主席，CIE D2主任、副主任和秘书长，CIE D2的4名有关LED测量技术委员会主席，我国专家潘建根教授级高工、牟同升副教授共11人召开了闭门会议，专门协调了CIE D2在LED光和辐射测量方面的研究和技术标准化工作，会议经过热烈讨论，一致同意将LED产品基本分为小功率LED、大功率LED、LED模块、LED灯和LED灯具等几个部分，分别研究其光学测量方法，并期望尽快发布相应标准化技术文件，如图5所示，其中，LED灯具测量方法的研究由我国潘建根教授级高工负责，光生物安全相关的辐亮度测量方法的研究由我国牟同升副教授负责。

　　9月3日的分部年会，CIE D2对各个技术委员会和研究报告进行了总结。由潘建根教级高工授领衔，由远方公司和美国NIST共同承担的CIE R2-38 光度计和色度计的光谱响应度测量研究已接近尾声，长达28页研究报告获得了CIE D2会议的高度评价，会议决定，CIE将出版该研究报告。

图5：CIE D2对LED产品的分类研究

　　此外，远方公司潘建根教授级高工还就CIE R2-42 LED灯具的测量方法的最新研究作了陈述报告，该报告涉及目前测光领域最关注的话题，内容丰富，数据和图片充实，引起了CIE专家的极高兴趣，立刻活跃了会场气氛，出现了开会以来最为热烈的讨论，CIE D2会议一致认为该领域是目前光和辐射测量最有挑战性而又亟需解决的研究领域之一，会议决定潘建根教授将继续负责该领域的研究，并探讨成立CIE关于LED灯具测量技术委员会以实现相关工作标准化的可能性。图6为潘建根教授向大会报LED灯具的测量方法和设备的最新研究成果。

　　图6：潘建根教授向大会报告LED灯具的测量方法和设备的最新研究成果

　　会上，来自台湾工研院的于学玲博士还汇报了她所承担的曲面光源光度学的研究成果，如图7所示。浙江大学牟同升副教授也按议程汇报了照明产品的光生物安全相关的亮度测量的研究成果。

　　图7：台湾工研院于学玲博士向大会报告曲面光源光度学的最新研究成果

　　本次会议还表决通过了两个新的TC提议，一是照度计和亮度计的分级，本TC是在原TC2-40的基础上开展的，由瑞士METAS负责，中国专家潘建根教授因其在TC2-40的贡献，被列为首位TC委员;另一个TC主题为OLED产品的测量，由德国PTB负责;另外会议表决通过了开设一个新的研究报告项目，主题为AC LED的测量，由台湾工业和技术研究院周佩廷博士负责，图8为周佩廷博士向大会提出研究报告项目的申请。

　　图8：台湾工研院周佩廷博士向大会申请AC LED测量的研究报告项目

　　本次会议还通告并商讨了CIE D2日管理常事务，今后CIE将提高工作效率，加快技术文件及标准的出台，争取每项文件在其立项后四年内完成。

　　应该说本次会议在各方面都取得了良好的效果，代表们都很感激主办方的精心策划和组织以及承办单位METAS热情周到的服务，也都为瑞士迷人的风光深深吸引。下图为会议地点METAS的外景。

图9：会议地点瑞士联邦计量局(METAS)外景

　　2011年7月11到14日，CIE第27届大会将在南非太阳城举行，目前正在紧张的论文摘要征集阶段，截稿时间为2010年10月22日。27届大会期间也将按例召开各分部和TC会议。届时相信会有更多中国专家的身影活跃在热情的南非太阳城，期待中国在CIE等国际组织中拥有更多的影响力和话语权。

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