蓝菲光学为上海半导体照明中心提供LED寿命测试系统
2009-09-03
作者：
来源：光电新闻网
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摘要： 上海半导体照明应用技术研究中心开始使用享誉业界的蓝菲光学LED寿命测试系统进行LED标准的科学研究。
上海半导体照明应用技术研究中心实验室评估总经理Steven Li 先生评价道，“蓝菲光学的系统是具有升级功能的理想系统，该系统是根据最新的半导体照明测试标准量身制作的，它将传统LED测试方法与新方法的有机地联系在一起。”
上海半导体照明应用技术研究中心希望能藉此机会帮助和培养客户接受新科技，而蓝菲光学也将研究中心视为战略伙伴，希望此次合作成为一个标志性案例，成为中国LED测试系统的标杆。(编辑：XGY)
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