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蓝菲光学为上海半导体照明中心提供LED寿命测试系统

2009-09-03 作者: 来源:光电新闻网 浏览量: 网友评论: 0

摘要: 上海半导体照明应用技术研究中心开始使用享誉业界的蓝菲光学LED寿命测试系统进行LED标准的科学研究。

  近日,上海半导体照明应用技术研究中心开始使用享誉业界的蓝菲光学LED寿命测试系统进行LED标准的科学研究。

  该研究中心本来计划采购一套其他国外厂家的系统,同时希望该厂家能够提供相关的销售支持,但是该厂家没有在中国本地的人员跟进,这时,研究中心在一本中文杂志上了解到蓝菲光学的产品在美国安装的成功案例,于是和蓝菲光学的亚太区销售总监肖冬联系。随后,蓝菲光学公司的全球销售副总裁Peter Weitzman先生搭乘飞机专门来上海与研究中心进行会面,了解客户需求。

  中心了解到,蓝菲光学的LED寿命测试系统和本地生产的系统有三大区别。第一,通常本地生产的测试系统一次只能测试一个LED而蓝菲光学的系统可以一次测试多达20个LED或者模组。第二,本地测试系统一次只能测试一个参数,而蓝菲光学的系统能一次同时测试多个参数,包括光、电、色的参数,而且定制的软件可以一次性将所有测定参数归类输出,便于用户分析;此软件还可以方便用户进行二次开发和升级。第三,蓝菲光学的系统可以测量高功率LED或LED模组,而本地系统一般只能测试普通低功率LED。在了解了蓝菲光学的这些优异特性,以及和本地技术支持人员会面后,中心终于决定采购蓝菲光学的系统。

  

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