2008年10月13-14日，国际标准IEC TC110 WG5工作组专家汇聚韩国首尔一山 (ilsan) 的韩国KINTEX国际会展中心，召开了OLED国际标准工作组特别会议。

　　会议上，OLED视觉质量测试标准项目负责人、美国国家标准与技术研究院NIST的Penczek博士介绍了该标准项目的进展工作。根据今年六月在美国洛杉矶会议的决定，邀请了我国专家牟同升教授在会上报告了OLED荧光性能的测量方法标准研究工作，并向各国专家演示了浙大三色光电实验室对OLED样品的荧光测试结果。Penczek博士表示，该测试方法对于制定OLED在亮室环境下光学性能评价标准提供了重要的依据。

　　牟同升教授作为Project Leader向与会专家介绍了IEC 62341-6-3 Organic Light Emitting Diode (OLED) Displays - Measuring Methods of Image Quality 标准的进展情况，该标准的NP文件将于2008年10月结束投票，预计下次会议将提交CD版本的标准;CDV草案计划于2009年结束，按正常进度将于2010年完成FDIS版本的工作。

　　此次会议上，韩国首尔大学的Changhee Lee教授提出辞去IEC TC110 WG5工作组的Convenor负责人工作，并建议由韩国国家电子技术研究院KETI的Jeongno Lee博士接替;经过各国代表的表决，同意Changhee Lee教授的提议。