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明导与英飞凌提出的LED封装检测方法成为“jesd51-14”标准

由美国明导科技与德国英飞凌科技2005年共同发表创意时所提出的半导体封检测方法,被管理半导体封装特性评测技术的jedec jc15委员会认定为“jesd51-14”标准,命

  https://www.alighting.cn/news/20110402/100611.htm2011/4/2 13:14:01

梁新刚:大功率LED器件的模拟与测试

清华大学航天航空学院常务院长梁新刚教授介绍了大功率LED芯片、器件和测试方面的研究结果。

  https://www.alighting.cn/news/20080802/104433.htm2008/8/2 0:00:00

提高取效率降功率型LED封装(图)

功率型LED封装技术主要应满足以下两点要求:一是封装结构要有高的取光效率,其二是要尽可能低,这样才能保证功率LED的光电性能和可靠性。

  https://www.alighting.cn/news/20081013/V17542.htm2008/10/13 11:04:33

电压法测量LED结温的原理及测试

功率型LED及其灯具的性能测试,对于LED的生产和应用研发都有十分直接的意义。以下将简述LED及其灯具的主要性能指标,电压温度系数k、结温和测试原理、测试设备、测试

  https://www.alighting.cn/news/20120316/89521.htm2012/3/16 10:50:04

jedec发布五项国际LED测试标准

jedec最近出版了第一个国际组件级的高亮度/功率LED测试标准,它定义了LED测试数据表上的数据、测试环境和程序标准。jedec jc-15委员会联合LED产业领导者制定了

  https://www.alighting.cn/news/20120525/99747.htm2012/5/25 9:56:24

jedec发布五项国际LED测试标准

jedec最近出版了第一个国际组件级的高亮度/功率LED测试标准,它定义了LED测试数据表上的数据、测试环境和程序标准。jedec jc-15委员会联合LED产业领导者制定了

  https://www.alighting.cn/news/2012524/n868440103.htm2012/5/24 11:40:14

gbt 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳测试方法

本标准规定了半导体集成电路封装结到外壳测试方法。该标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装结到外壳的测量。

  https://www.alighting.cn/news/20110118/109765.htm2011/1/18 16:21:09

鸿利光电进补400万 封装产品过lm-80测试

近日,鸿利光电emc3030通过美国环保署认可的第三方iesna lm-80 6000小时测试,公司现可根据需要提供lm80测试数据。lm-80为LED封装的流明维持率测试标准,

  https://www.alighting.cn/news/20140930/110557.htm2014/9/30 10:05:58

提高取光效率降功率型LED封装技术

超高亮度LED的应用面不断扩大,首先进入特种照明的市场领域,并向普通照明市场迈进。由于LED芯片输入功率的不断提高,对这些功率型LED封装技术提出了更高的要求。

  https://www.alighting.cn/news/2010122/V22678.htm2010/1/22 8:41:42

三星中功率LED封装lm561b通过lm-80测试

三星电子28日宣布,其高光效的中功率LED封装产品lm561b已通过美国能源之星lm-80测试

  https://www.alighting.cn/news/2013114/n647657937.htm2013/11/4 9:22:59

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