引言：

　　参考美国 NGLIA&DOE 公布的光效与成本信息(图1)，LED 预计在未来的几年将迅速进入功能照明领域。LED 将是半导体材料领域，继硅材料技术之后对人类的另一大贡献。

图1：LED 光效及成本发展趋势(来源：美国NGLIA & DOE)

　　在研究 LED 光效提升的同时，LED 可靠性问题也得到了广泛的关注，特别是温度对LED性能的影响。Nadarajah Narendran 在不同的温度条件下对白光LED(Lumileds Star 结构)进行通电(IF=350mA)老化试验[1]，同时监控LED 管脚温度，得到了管脚温度和寿命关系的试验数据(图2)，证明了温度对LED 寿命的影响。

图2：恒温控制箱中Star LED 管脚温度与寿命的关系

　　所以，LED 晶粒的工作温度(结温)将是未来LED 灯具的重要性能指标之一。但由于没有相应的检测判定标准，在目前的LED 灯具厂商规格中没有很好的体现。本文参考图 1 LED 光效及成本发展趋势(来源：美国NGLIA & DOE)EIA/JESD51-1(1995)标准[2]制定的半导体单晶粒元件热阻电参数检测方法，提出了一种比较可行的LED 灯具工作结温检测方法，并介绍了应用实例。

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