美国照明研究中心公布提高LED光效的新研究成果
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上传人：未知 上传时间： 2007-10-28 浏览次数： 50 |
LED的出光效率受制于对从芯片活动层产生的光的提取能力。这种光损的一个原因是反射率在芯片与周围介质间的失配。由于内部反射等原因，一些光被折返而无法溢出芯片。这些光随后只能陷在器件内部而损失掉。有几种方法可改善光的提取效率，包括高系数密封，LED芯片改形，以及粗化LED上表面等。
照明研究中心进行了一项包括2个部分的研究。在第一部分中，研究人员进行了光线跟踪分析，以了解哪些因素影响光从LED芯片溢出。在第二部分中有一些试验对通用的商业用LED密封部件的反射率和温度对其产生的影响做了量化的研究。
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