CIE发布有关照明频闪的定义和测量的技术备注

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2016-10-26 作者：来源：OFweek 半导体照明网浏览量：网友评论： 0 条

摘要： 近期，国际照明委员会发布了技术备注文件CIE TN 006：2016 Visual Aspects of Time -Modulated Lighting Systems-Definitions and Measurement Models (时间调制的照明系统的视觉方面——定义及测量模型)。此文件由CIE TC1-83技术委员会起草，反映了当前CIE在这一领域的知识和经验。

　　图4：人眼频率响应函数

　　目前，对于幻影效应(Phantom array effect)的研究虽然没有闪烁(Flicker)和频闪效应(Stroboscopic effect)多，但CIE TC 1-83指出幻影效应也应在频域进行分析评价，并给出了典型汽车照明产品的幻影效应分析灵敏度曲线示例，如图5所示。CIE TC 1-83将进一步对幻影效应进行详细研究，以补充完善评价模型。

　　图5：幻影效应分析灵敏度曲线示例

　　4、未来的工作

　　针对光源频闪，TC 1-83推荐使用术语TLA，并建议使用基于频域分析的方法对频闪效应和幻影效应进行量化，基于时域分析的方法量化闪烁，此外，SVM和IEC短期闪变严重程度Pst被分别推荐用于频闪效应和闪烁的量化。虽然，对于TLA，目前已经取得了一定的成果，但是还存在一些问题有待解决，如幻影效应的量化模型完善，量化方法的可靠性和重复性验证，已有量化模型的适用范围等，因此，未来的工作需着重在这些方面进行研究，而且CIE分部2也将成立新的TC对频闪量化方法的可靠性和重复性进行分析研究。

　　5、TLA各类参数的典型测量方案

　　综上所述，要完成TLA各类参数的测量，并进行可见性判断，对仪器的各项性能要求都很高。针对此问题，远方光电提出了一种专业性测量方案—光源闪烁分析仪，可满足上述TLA参数测量要求，不仅适用于实验室测量，又可广泛应用于各种现场测量中。

　　●采样速率高达100kHz;

　　●具有7个数量级的宽动态范围;

　　●可定制国家标准级光度探头;

　　●自带的软件支持时域以及频域分析方法，对PF、FI、Pst以及SVM 等各类量值进行准确测量和分析，并根据相应标准对产品进行分级;

　　●大容量内存，且采样与传输同时进行，一定条件下可实现无限采样;

　　●搭载平板电脑，可实现远程无线操控和数据传输。