在微利时代与激烈竞争市场中，企业如何领先竞争对手，降低产品在市场的客退率，和加速新产品投入市场，为企业竞争力的重要因素之一。因此，如何在极有限的时间里，开发出既成熟、质量又稳定之产品，为现今激烈竞争市场中相当重要的一环。

　　有鉴于此，iST宜特科技将多年实务经验，化为一系列的教战准则，除去艰深的理论，以深入浅出的方法探讨新产品之设计验证概念。

　　首先，3月28号豋场的课程当中，将从可靠性设计验证概论谈起，您将从中了解

　　什么是可靠性设计验证?

　　新产品开发完成时，如何确定没有潜在可靠性的问题?

　　为何新产品已经做了很多的试验，出货后仍然有问题?

　　产品在市场出问题，但总是无法找出问题所在或重现失效原因?

　　系列一课程：可靠性设计验证概论 2013年3月28号(星期四)

　　讲师简介

　　崔革文先生，目前担任iST宜特科技工程总处资深副总经理一职。过去服务于台湾工业技术研究院长达18年，服务期间从事领域包括IC封装技术，电磁兼容修改技术，IC元器件/PC板、模块与终端产品可靠性设计验证与环境模拟试验技术。2003年加入iST 工程团队后，更致力于IC、PCB/ PCBA与模块等故障分析技术研究与分析，为少数横跨电子产业供应链之可靠性与故障分析工程专业人员。

　　近三年来应两岸厂家邀请赴厂训练，包括台达电、华硕、智邦、光宝、研华、广达、鸿海、联正科技、联想上海、昆山台协会、Flextronics、Philps LED、IPC China、ISTA China等。

　　报名信息

　　参加对象： 模块、终端产品厂之研发、质量保证、制程等高阶主管，技术总监与总工程师等相关人员

　　课程地点： 宝利来国际大酒店-深圳宝安区福永街道福永大道 (查看地图)

　　课程时间： 2013年3月28号(星期四)

　　洽询专线： iST宜特科技窗口:

　　+86-512-5763-9600 分机 6501 江小姐

　　Email: is@isti.com.cn

　　+86-755-2971-7886 分机 3028 蓝小姐

　　报名方式： 请上宜特网站进行在线报名，或请点此。即日起额满为止，欲报从速。(一间公司限三名，报名成功确认以主办单位回复为主)

　　参加费用： 3月28号当日课程免费，请携带名片一张

　　2013 iST系列课程

　　确切课程时间将公布在宜特官网，敬请期待

　　注意事项

　　主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。

　　未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。

　　若因不可预测之突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。

　　现场报名之学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。