SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
2011-10-27
作者：鲍超,胡爱华等
来源：工业和信息化部电子工业标准化研究所
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摘要： 本标准主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
发布部门： 工业和信息化部
发布日期： 2009-11-17
实施日期： 2010-01-01
归口单位： 工业和信息化部电子工业标准化研究所
主管部门： 工业和信息化部电子工业标准化研究所
起草单位： 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司
起草人： 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华
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