第八轮器件检测结果出炉
2011-09-15
作者：未知
来源：国家半导体照明工程研发及产业联盟
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摘要： 第八轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供，数据包括20mA下绿光光源测试结果、 350mA下绿光光源测试结果、670mA下白光光源模块、240mA下白光光源模组测试结果。测试方法标准为SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法。
一.测试说明
第八轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供，数据包括20mA下绿光光源测试结果、 350mA下绿光光源测试结果、670mA下白光光源模块、240mA下白光光源模组测试结果。测试方法标准为SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法。
二. 测试结果
图1. 20mA下绿光光源测试结果数据
图2. 20mA下绿光光源主波长和光通量随光效变化情况
图3. 20mA下绿光光源峰值波长和电压随光效变化情况
图4. 35mA下绿光光源主测试结果数据
图5. 670mA下光源模块测试结果数据
图6. 670mA白光光源模组 CRI和CCT随光效变化情况
图7. 240mA下光源模组测试结果数据
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