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亚洲LED照明高峰论坛专题分会:LED专利 标准 检测

2011-06-20 作者:LEDth 来源:新世纪LED网 浏览量: 网友评论: 0

摘要: 2011年6月10日上午9时30分,“亚洲LED照明高峰论坛”的专题分会“LED专利、标准与检测”会议在广州琶洲展馆B区8号会议厅北厅举行。国内LED产业的快速发展对“LED专利、LED标准、LED检测”这三个方面提出了严峻的考验,产业体系的完善才能促进国内产业的健康发展、加速LED照明产品的普及。

  她说我国自2005起年,相关的半导体标准的已开始制定。目前已制定了国家标准、行业标准有四十余项,地方标准二十余项。但由于各个类型的标准中,各个地方的标准中,有些标准有重复、矛盾的现象。在标准的制定过程中必须对LED的特点和照明的需求都有充分的认识,需要根据半导体照明产品特点,产业链上、下游沟通、交流与合作。

  会场上,来自台湾工业技术研究院电子与光电研究所的周佩廷副理事也重点阐述了标准制定、标准测量面临的挑战。从CIE127标准的程序和不足之处开始,接着周佩廷介绍了散热问题的重要性以及目前CIE正在研究的做法(即采取主动控温的方式,在不同的界面温度下采用不同的标准)和遇到的困难。在谈到LED寿命预估时,他说道,目前研究发现LED寿命测量在发热6000小时和发热10000小时之后会有不同的数据曲线,因此目前有专家提出LED寿命测量应在10000小时,由于测量时间的长短对产品投放市场时间的影响巨大,这引发了现场观众的热烈讨论。他说,新的标准不一定跟得上新的技术,而新的技术又会碰到新的量测,从某种意义上说,标准是为了使各方利益最大化、各方妥协的产物,标准也会在技术进步的同时不断改进更新。

  提高测量技术,解决测量难点

  LED测量和测量技术的提高是LED照明产业目前所面临的难点。中国照明学会常务理事潘建根先生在这次论坛上对如何解决这一难点和大家进行了交流。潘理事认为LED的特殊性,比如LED的颜色分布的不均匀性,LED发光的密度导致亮度太高等等,给其表徵和测量带来了挑战。他随后介绍了LED的光色性能测量技术,讨论新参量的测量解决方案。他说自己在做CIE登记测量的研究,目的就是要建立CIE系统,使其成为ISO的标准,并介绍了欧洲先进国家实验室的测量方法,比如德国PTB实验室的最基准的测量方法等等。

  同时在报告中,他还分析LED测量技术的发展趋势,特别是热学特性的测量、寿命评估、光生物安全测定和中间视觉亮度学等方面。还列举了道路照明的例子,灯具的亮度会影响驾驶员的视觉,进而引起驾驶上的一些问题,对亮度要进行限制。提倡要用新的评估方式来评估路灯的有效面积。在光生物安全方面要注意蓝光的危害和光线的集中问题。

  演讲嘉宾PPT下载地址:

  赵英 — 《中国半导体照明标准现状与规划》

  潘建根 — 《LED测量所面临挑战和发展趋势》

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