SJT 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
摘要: 本标准代替SJ/T2355.1~2355.7-1983《半导体发光器件测试方法》系列标准,与SJ/T2355-1983相比主要变化如下:
本标准代替SJ/T2355.1~2355.7-1983《半导体发光器件测试方法》系列标准,与SJ/T2355-1983相比主要变化如下:
—、增加了半导体发光二极管的色度学参数、热学参数和静电放电敏感性的测试方法。
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