LED可靠性和寿命检测设备标准体系正在建设中

　　LED器件的可靠性和寿命是应用产品设计最关注的核心问题。而LED产品具有上万小时的寿命，按照实际工作状态进行“点灯”试验是不现实的。因此，必须针对半导体照明器件LED的光衰退的机理进行寿命的加速试验。近几年，国内一直在探索LED寿命的加速试验方法及相应的实时加速试验、检测设备，半导体照明标准工作组也已开展相应的标准研究。

　　由于加速试验的温度较高，一般的光电测量装置无法进行实时测量。因此，针对半导体照明器件的寿命试验，通常是基于传统的高温试验，将LED器件置于高温箱内进行高温试验后，再取出进行离线式的光电检测，热应力加速试验与光、电、颜色等性能测试分离，无法保证测试结果的实时性与同步性，对于光功率衰减与色温漂移难以进行实时测量，其寿命准确性与可靠性难以保证。工业和信息化部半导体照明技术标准工作组已于2006年组织LED器件行业协会和石家庄中国电子科技集团第十三研究所等近十家企业研究制订测试方法标准，针对LED器件封装及系统失效机理，适用于半导体照明的快速可靠性寿命，快速可靠性寿命评估标准等科学理论体系开展了前期的研究工作，目前标准正在制定之中。

　　2008年底，杭州浙大三色仪器有限公司与中国电子科技集团第十三研究所针对多温区的实时测量设备开展研究，目前已有初步的成果，可以明显缩短加速温度应力的步进试验时间。国际上，日本和美国也都非常重视LED器件寿命的加速试验方法。（编辑：PCL）