潘建根：《LED测量所面临的挑战解决方案和发展趋势》
摘要： 2011年6月10日，“亚洲LED照明高峰论坛 -- LED专利、标准与检测"专题分会在广州琶洲展馆B区8号会议厅北厅举行。中国照明学会常务理事兼测试计量专委会副主任委员、杭州远方光电”掌门人“潘建根先生发表了主题为《LED测量所面临的挑战解决方案和发展趋势》的报告。
2011年6月10日，“亚洲LED照明高峰论坛 -- LED专利、标准与检测"专题分会在广州琶洲展馆B区8号会议厅北厅举行。中国照明学会常务理事兼测试计量专委会副主任委员潘建根先生发表了主题为《LED测量所面临的挑战解决方案和发展趋势》的报告。
潘建根先生从LED的特殊性讲起，比如LED的颜色分布的不均匀性，LED发光的密度导致亮度太高等等，这些LED的特殊性能给其表徵和测量带来了挑战。
介绍LED的光色性能测量技术，讨论新参量的测量解决方案。潘建根先生在做CIE登记测量的研究，目的就是要建立CIE系统，使其成为ISO的标准。房间温度，LED的姿态、散热器都对LED有很大的影响。介绍了欧洲先进国家实验室的测量方法，比如德国PTB实验室的最基准的测量方法等等。
同时潘建根先生还分析LED测量技术的发展趋势，特别是热学特性的测量、寿命评估、光生物安全测定和中间视觉亮度学等方面。他还列举了道路照明的例子，灯得亮度会影响驾驶员的视觉，进而引起驾驶上的一些问题，对亮度要进行限制。提倡要用新的评估方式来评估路灯的有效面积。在光生物安全方面要注意蓝光的危害和光线的集中问题。
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