第七轮LED器件测试报告分析出炉
2011-04-21
作者：未知
来源：CSA
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摘要： 第七轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供，数据包括350mA条件下白光、绿光LED测试结果，400mA下集成光源测试结果，120mA下5630结构测试结果，20mA下白光测试结果。测试方法标准为 SJ/T 2355-2005半导体发光器件测试方法。
一.测试说明
第七轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供，数据包括350mA条件下白光、绿光LED测试结果，400mA下集成光源测试结果，120mA下5630结构测试结果，20mA下白光测试结果。测试方法标准为 SJ/T 2355-2005半导体发光器件测试方法。
二. 测试结果
数据结果左侧列表
图1. 350mA大功率白光LED器件 CRI和CCT随光效变化情况
图2. 20mA白光LED器件 CRI和CCT随光效变化情况
图3. 400mA集成光源LED器件 CRI和CCT随光效变化情况
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