几个小技巧

上传人：admin

上传时间： 2007-02-08

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在安全试验中,有些故障测试点在条件允许下,可以相应减少.在此介绍几个小技巧.

1:串联电阻当电路电压被限流电阻限制在安全值一下时,只要该电阻满足以下公式,这个电路就不必进行故障试验. R>V2 /4P.其中,R:电阻器的值;V:故障时电阻两端的电压值;P:电阻器的额定功率值

2:偏置条件判断对半导体器件的偏置部位施加故障时的影响.比如,经过分析,对晶体管的基极和发射极之间短路会切断电路,那么故障实验就不必进行.

3:累积测试数据在电路中,对特定的元气件实施故障常常可以获得电路是否将关闭等整个电路的相关特性,可选择减少对其他元气件的故障测试次数.

4:对称对电路的类似性,共同性或对称性进行分析.一般来说,只要对对称电路的一路进行故障测试就可以了.

5:结构通过结构分析来确定对某些区域可以减少测试.比如:加套管的导线,用阻燃物体罩住的电路可以减少元件的故障数量.

6:材料使用阻燃的或有阻燃等级的材料(如:UL-94V0)就可以减少相关故障测试点.

7:电路分析通过分析电路及其相关的元气件(如三极管,二极管,IC)如果他们是由受限制的电源(向外接电阻提供小于50W)供电,可能就不需要进行故障测试了.

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