CYBERNET CHINA于3月20-21日在上海新国际展览中心展出了创新开发的LCD/OLED平板显示子像素缺陷检测系统，亮度均匀性检测系统和LED大屏幕亮度校正系统，吸引了众多国内外光电产业客户参观。

　　本次特别邀请了CYBERNET日本总部OM产品开发部技术经理市泽俊介先生以及资深光学软件开发工程师陈村裕来先生到现场给广大客户介绍和演示了FPiS平面显示产品检测系统。 Flat Panel Display Inspection System(FPiS平面显示器检测系统)可实现全高清屏一次测量，精确获取每个子像素的坐标和亮度数据，提供子像素缺陷信息以及亮度系数，可解决OLED屏的亮度校正问题，避免人工检查时因个人差异而影响产品的检查效果，提高产品质量，节约人工成本， 目前该产品在日本和中国已有客户在使用，得到了好评。此系统在日本研发制造，技术为全球首创。

　　CYBERNET集团三位高级光学工程师王顺良、高卫东、黄健分别在展会上做了关于高质量液晶显示器的背光设计、平板显示屏高精度自动检测系统、平板显示屏高速自动检测系统三场主题演讲，吸引了广大参展观众的浓厚兴趣。CYBERNET CHINA今年将不断推出FPiS系列产品，满足光电产业不断增长的检测需求，帮助客户解决各种技术难题，为中国平板显示产业发展推波助澜。

　　CBERNET CHINA同时 还展出了背光和照明设计软件LightTools, 成像设计软件CODEV以及光通讯器件，系统和网络设计软件RSoft。