SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
摘要: 主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。
替代情况: 替代SJ/T 2355.1-1983~SJ/T 2355.7-1983
发布部门: 工业和信息化部
发布日期: 2009-11-17
实施日期: 2010-01-01
归口单位: 工业和信息化部电子工业标准化研究所
起草单位: 中国光学光电子行业协会光电器件分会
起草人: 鲍超
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