日本光学薄膜检查用照明系统12月上市
2008-11-07
作者：木村 雅秀
来源：日经BP社
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摘要： 日本MEC在“FPD International 2008”上展出了目视检查照明系统“B30系列”，采用该系统更易于看到光学薄膜的划痕等。该产品将于2008年12月上市。
日本光学薄膜目视检查用照明系统
日本MEC在FPD International 2008上展出了目视检查照明系统B30系列，采用该系统更易于看到光学薄膜的划痕等。该产品将于2008年12月上市。价格为约30万日元。
卷对卷生产光学薄膜时，容易产生周期性缺陷，由于不一定都需要全面检查，目前除大型厂商外，大部分企业都采用目视检查。原照明系统存在的问题是，检查用光直接照入工作人员的眼睛，眼睛疲劳会使检查准确度下降。此次采用了从一侧向薄膜照射卤素灯光，光源不会直接照入工作人员眼睛的构造。另外，通过切换照明位置，还便于识别纵向或横向的划痕。
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