杭州中为光电技术股份有限公司

产品概述

ZWL-C5芯片自动测试系统是一款对上游LED晶粒的光、色、电等参数进行高精密探点测量、生成MAP图的系统，以满足下道分选制程的需求。

基本功能

测量对象： LED晶粒（蓝膜圆片）

测量规格：2英寸、4英寸、6英寸

测量项目：

?  光色电参数：正向电流输出、反向电流输出、反向电压输出、正向电压测量、反向电压测量、反向漏电流测量；光强；色品坐标、色温、显色指数、波长等

?  LED晶粒外观不良检测:如破裂、崩角、双胞、针痕等等

?  系统生产MAPPING图

?  可加配测试mw

产品特色

l  系统性能卓越

?  测量速度：MAX.28K/H 

?  配置高精密恒温光谱，采用积分球测量法，实现高精度光色测量：色品坐标精度在0.0015以内

?  配置高性能电源驱动，电测精度极高：0.22%rdg+0.57mA；0.015%+1.5mV

?  采用高速CCD智能影像识别技术，晶粒自动扫描定位、外观不良品识别更精确；

?  采用精密传动机械设计：晶粒x、y轴定位精度<±10μm；

?  探针智能控制技术，具备接触感知功能,针压可调；自动设定起始点、水平线校正及高度补偿，自动点测；

l  自主开发测量软件，后期升级扩展有保证：

?  界面友好，操作简便；

?  数据格式兼容，软件功能定制化程度高；

?  报表可导出EXCEL,以便分析评估；

项目

参数

测量范围

测量精度

电参数

正向电流

0-1000mA

0.22%rdg+0.57mA

反向漏电流

0-100mA

0.055%rdg+6μA

正向电压

0 -200V

0.015%+1.5mV

反向电压

0-200V

0.015%+10mV

光参数

光强

0.1mcd-65cd

3%f.S

色参数

波长

350-1050nm

0.5nm

显色指数

1-100

1

色品坐标

x 、y、u、v

0.0015

色温

1300~25000k

0.8%@6500K

测试装置尺寸

L910mm×W768mm×H980mm

电源

单相AC220V±10%/50Hz

重量

500kg

功率

1kw