ZWL-C00（190）G COB老化光衰仪
产品概述 | ZWL-C00（190）G COB老化光衰仪是对集成封装（COB）LED封装成品进行老化及在线光衰测试的实验室用检测设备。 |
基本功能 | l 适用对象：集成封装COB； l 老化功能：支持恒流和脉冲驱动两种老化模式； l 在线光强测试：相对光强数据实时采集、保存及分析； |
特殊功能 | l 夹具定制、设备保有成本更低： ? 夹具弹性设计，兼容多类集成封装（COB）测试，节约客户投资成本； ? 夹具可支持高温老化； l 可根据集成封装大功率的实际功率，进行电源的定制 l 光衰模块与老化模块完美配合； |
产品特色 | l 老化效率高： ? 主机可以同时老化2块老化板，每块老化板可同时老化多颗集成封装大功率器件（夹具依据客户样品定制）； l 强大的电源： ? 多路高功率恒流电源独立输出，老化不互相影响； ? 可同时驱动不同形状的集成封装大功率器件； ? 支持多种驱动模式，恒流和脉冲驱动可任意选择； l 人性化的设计理念： ? 带老化时间设定和记忆功能，老化时间结束可自动关闭；中途断电，来电后自动启动，数据不丢失； ? 具温度控制功能，保证老化主机不受温度影响； l 同时在线光衰记录仪： ? 可同时对多颗集成封装大功率同时进行光衰减测试，多路数据独立记录和保存； ? 支持脱机运作，拥有4M空间可同时记录多路光衰模块多达30天的测试数据，支持扩展； l 自主核心算法软件： ? 数据独立记录和保存、可自动备份； ? 提供光衰曲线图等参数报表分析功能，方便客户评估； |
产品主要参数：
大功率老化电源 | 单颗独立恒流、脉冲输出，温控 | ||
老化夹具 | 2组老化散热夹具 配套绝缘板 | 光衰记录仪 | 数据独立记录和保存 |
光衰采集器 | 采集相对光强数据 | 温度传感器 | 可进行温度测试 |
工作电源：单相AC220V±10%/50HZ | |||
电源老化详细参数
电源老化 模块（可定制） | 电压 | 15V | 电流输出 | 5～1200mA/路 |
电流分辨率 | 0.1mA | 占空比 | 1:99～99:1 | |
电流精度 | 5～100mA：1%±0.5mA；100～1200mA：1%±1mA | 定时时间 | 最大2000小时 | |
输出频率 | 1～3000Hz | 适应环境 | 0°～80° |
光衰模块详细参数：
光衰 模块 | 最大定时 | 9999小时59分59秒 | 采集频率 | <3600次/小时 |
光强可测 | 大于50000mcd 量程可扩展 | 光衰量误差 | <1% | |
数据丢失率 | <2% | 平均无故障时间 | 大于20000小时 | |
光强测量范围 | 100～50000mcd | 数据备份频率 | 1次/10分钟 |
产品规格：
外形尺寸 | ZWL-190夹具（2组）：≤L ZWL ZWL | ||
功率 | ＞300W（可定制） | 工作电源 | 单相AC220V±10%/50HZ |
