产品概述 | ZWL-3908F COB模组均匀性测试系统针对COB模组封装的实验研发及产线品质抽检领域,对各个抽测LED点的光、色、电参数进行检测并比对结果,有效解决COB模组光源整体均匀性指标难于检测的瓶颈问题。 |
基本功能 | l COB模组抽测点光、色、电测试及均匀性分析 l 测试时间:<1S/点 l 电性测试:顺向Vf l 光学测试:亮度LOP根据光学组件不同可测试lm、λp、λd、λc、hw、purity、(x,y)、CCT、CRI; |
产品特色 | l 多点比对功能,为客户精准生产提供强有力技术支撑: ? 自定义多点比对检测,测试点数量自由设定; ? 光谱线比对检测,智能化体现LED发光均匀性指标; l 检测性能好: ? 光谱辐射计色品坐标稳定性误差小于0.0002,毫秒级速度; ? 电压回读精度0.02%+12mV;电流回读精度0.05%+2mA; ? 封闭暗箱测试,测试结果不受干扰; ? 多轴(X轴,Y轴,z轴)移动控制,走位精准(达0.2mm); l 多规格COB模组: ? 圆形直径8cm,条型最长可扩展60cm; l 测试夹具自主弹性设计,兼容更多测试对象,节约客户投资成本; |
产品主要参数:
项目 | 功能 | 范围 | 精度 | 分辨率 |
电参数 | 正向电压 | 0~75V | 0.02%+12mV | 0.1mV |
正向电流 | 0~ | 0.05%+5mA | 0.1mA | |
光参数 | 光通量 | 1~2000lm(可扩展) | 3%f.s.+0.001lm | 0.001lm |
色参数 | 主波长 | 380~780nm | 1nm | 0.1nm |
峰值波长 | 380~780nm | 1nm | 0.1nm | |
显色指数 | 0~100 | 1 | 0.1 | |
色品坐标 | x、y&u、v | 0.003 | 0.0001 | |
色温 | 1300~25000k | 1k |
可编程直流电源详细参数:
支持恒流和恒压双模式输出 | |||
规格 | 30V/ | 75V/ | 150V/ |
额定输出 | 0~30V,0~ | 0~75V,0~ | 0~150V,0~ |
负载调节率 | <0.01%+0.5mV,<0.01%+0.1mA | ||
设置值分辨率 | 0.5mV,0.1mA | 1mV,0.05mA | 2mV,0.01mA |
回读值分辨率 | 0.1mV,0.01mA | 0.1mV,0.01mA | 0.1mV,0.01mA |
设置值精度 | 0.01%+2mV,0.05%+1mA | 0.01%+5mV,0.05%+0.5mA | 0.01%+15mV,0.05%+0.1mA |
回读值精度 | 0.02%+5mV,0.1%+5mA | 0.02%+12mV,0.05%+2mA | 0.02%+25mV,0.05%+1mA |
纹波 | 3mvp-p,2mA rms | 5mvp-p,1mA rms | 10mvp-p,0.5mA rms |
电压表精度 | 0~12V精度:0.02%+2mV;0~50V精度:0.02%+5mV | ||
毫欧表精度 | 10W 0~1000mΩ精度:0.2%+3mΩ;1000~10000mΩ精度:0.2%+6mΩ |
产品规格
外形尺寸 | ZWL ZWL-S5光谱仪:L 75V/ | X轴位移: | |
电源 | 单相AC220V±10%/50HZ | Y轴位移: | |
功率 | 100W MAX | Z轴位移: | |
推荐工作温度 | 23± | 步进电机: | 位移精度0.2mm |