1.高温：

将薄膜键盘放置在恒温恒湿试验箱中，试验箱温度调节为55℃±2℃，持续保温时间72 h，试验过程中不通电，不做功能试验。试验后在一般大气条件下恢复2 h，进行检测，外观质量、绝缘电阻、耐压值的结果应符合要求。

2.低温：

将薄膜键盘放置在恒温恒湿试验箱中﹐试验箱温度为-40℃±3℃，持续保温时间72 h，试验过程中不通电，不做功能试验。试验后在一般大气条件下恢复2 h，进行检测﹐回线电阻和按键力的结果应符合要求。

3.恒定湿热：

将薄膜键盘放置在试验箱中，试验条件为温度：40℃±2℃，相对湿度：93%±3% ，时间持续4 d ，样品不包装，试验过程中不通电。试验后在一般大气条件下恢复2 h，进行检测，外观质量、回线电阻、绝缘电阻和耐压值的结果应符合要求。

以上就是薄膜键盘在恒温恒湿试验箱中的试验项目，除此之外，还需要做快速温度变化试验，快速温度变化试验需要用到快速温度变化试验箱（型号：HYQT-80），其测试方法如下：

温度变化：

将薄膜键盘放置在试验箱中，样品处于不包装，不通电的准备使用状态进行试验，经受-40℃~+55℃，转换时间不大于3 min，高、低温的暴露时间均为30 min的5次温度循环。试验后，在一般大气条件下恢复2h，进行检测，外观质量、回线电阻、绝缘电阻和按键力的结果应符合要求。

1.高温：

将薄膜键盘放置在恒温恒湿试验箱中，试验箱温度调节为55℃±2℃，持续保温时间72 h，试验过程中不通电，不做功能试验。试验后在一般大气条件下恢复2 h，进行检测，外观质量、绝缘电阻、耐压值的结果应符合要求。

2.低温：

将薄膜键盘放置在恒温恒湿试验箱中﹐试验箱温度为-40℃±3℃，持续保温时间72 h，试验过程中不通电，不做功能试验。试验后在一般大气条件下恢复2 h，进行检测﹐回线电阻和按键力的结果应符合要求。

3.恒定湿热：

将薄膜键盘放置在试验箱中，试验条件为温度：40℃±2℃，相对湿度：93%±3% ，时间持续4 d ，样品不包装，试验过程中不通电。试验后在一般大气条件下恢复2 h，进行检测，外观质量、回线电阻、绝缘电阻和耐压值的结果应符合要求。

以上就是薄膜键盘在恒温恒湿试验箱中的试验项目，除此之外，还需要做快速温度变化试验，快速温度变化试验需要用到快速温度变化试验箱（型号：HYQT-80），其测试方法如下：

温度变化：

将薄膜键盘放置在试验箱中，样品处于不包装，不通电的准备使用状态进行试验，经受-40℃~+55℃，转换时间不大于3 min，高、低温的暴露时间均为30 min的5次温度循环。试验后，在一般大气条件下恢复2h，进行检测，外观质量、回线电阻、绝缘电阻和按键力的结果应符合要求。

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