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表现出的光电特性差异，探讨与gan材料本身有关的失效模式和机理，同时建立一种非破坏性的老化机理分析机制，通过小测量电流下的电应力老化分析，研究期间内部的退化机
https://www.alighting.cn/resource/20150320/123443.htm2015/3/20 11:09:20
对ingan/gan多量子阱蓝光和绿光led进行了室温900ma电流下的电应力老化，发现蓝光led老化到24小时隧穿电流最小，绿光led到6小时隧穿电流最小。
https://www.alighting.cn/resource/20150228/123557.htm2015/2/28 15:16:34
对不同大功率led芯片进行单次脉冲浪涌冲击，对比不同大功率led芯片在相同浪涌波形下的抗过电应力能力。实验共测试5款led产品，发现不同大功率led芯片的抗过电应力能力相差很
https://www.alighting.cn/resource/2013/11/15/153954_33.htm2013/11/15 15:39:54
分析led灯具过电应力冲击的故障现象、产生原因、解决办法;强调led灯具设计师必须在满足灯具尺寸、成本、照明效果等要求的前提下，为led灯具提供有效的过电应力冲击保护设计。
https://www.alighting.cn/resource/2011/11/18/173714_75.htm2011/11/18 17:37:14
https://www.alighting.cn/resource/20131114/125121.htm2013/11/14 16:33:06
对ingan/gan多量子阱蓝光和绿光led进行了室温900 ma电流下的电应力老化,发现蓝光led老化到24 h隧穿电流最小,绿光led到6 h隧穿电流最小;同时,两种le
https://www.alighting.cn/2013/4/10 11:40:42
采用密度泛函理论框架下的第一性原理平面波计算方法，系统研究了不同应力作用下gan的电子结构和光学性质，对比分析了外压调制对gan的能带结构、态密度和光学性质变化的影响。
https://www.alighting.cn/resource/20150302/123550.htm2015/3/2 11:45:19
本文就led生产中所出现的eos与esd，进行对比，简单介绍，希望可以帮到读者理解与强化概念；
https://www.alighting.cn/resource/20110107/128096.htm2011/1/7 11:11:26
般采取加速实验的方法来测试推导led寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价led寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率led可靠性,
https://www.alighting.cn/2013/5/29 10:20:47
目前不管国内还是国外led的驱动电路一般都采用直流电源来供电，本文将介绍用交流电直接驱动led的技术，因led具有响应时间短，高频性即理论上可闪烁无数次等特点。故此我们可直接用交
https://www.alighting.cn/resource/200818/V252.htm2008/1/8 9:58:20
