MS-20微型快速光谱仪采用专利设计和先进的加工工艺,使得复杂的光学系统能够集成于火柴盒大小的空间内,在微型光谱仪中处于国际领先地
根据CIE NO.63标准要求,全光谱法测量各种光源及半导体发光器件的光谱功率分布(紫外、可见、近红外)、色品坐标、色温、显色指数、色
一、仪器简介 SSP3112-X型LED芯片分光分色测试系统由SSP3112型LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。光强测量
随着全球经济的飞速发展,商品的极大丰富,环保问题日益成为人类关注的焦点。2003年2月13日欧盟RoHS指令颁布,并
紫外泄漏光谱分析系统动态范围宽、杂散光低、测量精度高等特点,适用于对光源和灯具的紫外泄漏测定要求较高的场所。完全符合国际和
国家高技术研究发展计划(863计划)研究成果 获美国专利授权 获“国家重点新产品”
具有较高的灵敏度和分辨率,其探测器为2048单元阵列CCD,可快速测量色坐标、色温、显色指数、主波长、色纯度等颜色参数,以及光谱辐射通
本设备主要为集成式LED功率器件的光色电参数快速检测和分选设计。设备内置全数控直流可调恒流电源。配置专用的测试支架和积分球。
技术特性 ◆ 测量参数:相对光谱功率分布,色品坐标,相关色温,显色指数,色容差,峰值波长,光通量等 ◆ 波长范围: 38
配电脑直接测量并显示光源及发光材料的相对光谱功率分布(紫外、可见、近红外)、色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、峰值波长
PMS-80是传统的机械扫描光谱仪,具有测试精度高的特点,相对于高精度快速光谱辐射计,测试速度较慢。采用远方专利Sync-
本系统主要用于测量背光源的相对亮度,光谱曲线以及色参数。测量快速,测量结果1秒即可在软件界面显示。相对亮度测量选用近场条件,探测器为V(
CMS-8000LED 精密光谱分析采用全机械自动完成对光谱采样,对光度、色度及电参数等相关测试参数自动存档。测量速度比原来大
基于HAAS-2000高精度快速光谱辐射计核心技术的工业级产品,替代现有的机械扫描光谱仪和在线光谱(颜色)分析测量的理想产
最新一代CMS-2S快速光谱分析仪采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器,可同时实现毫秒级的测量速
测试原理完全满足CIE和GB的标准要求,全速扫描自动完成光谱采样,对光度、色度及电参数等相关参数自动存档,便于读取。满